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              霍尔效应测试仪 ITO 薄膜测试案例
              阅读数: 958

              霍尔效应测试仪 ITO 薄膜测试案例

              霍尔效应测试仪 ITO 薄膜测试案例
              ITO 薄膜是一种 n 型半导体材料, 具有高的导电率, 高的可见光透过率, 高的机械硬度和良好的化学稳定性. 它是液晶显示器 ( LCD ), 等离子显示器 ( PDP ), 电致发光显示器 ( EL / OLED ), 触摸屏 ( TouchPanel ), 太阳能电池以及其他电子仪表的透明电极最常用的薄膜材料.

              上海伯东某科研客户霍尔效应测试案例一
              对 ITO 薄膜样品进行载流子浓度, 类型, 霍尔迁移率, 方块电阻检测, 主要是想看电阻值是否彼此相容, IV 曲线是否是线性的及样本是否是欧姆的, 统一的, 均匀的等方面.
              样品: ITO 氧化铟锡, 标记为 ITO1, ITO2, ITO3
              样品薄膜厚度: 60 - 100 nm
              样品尺寸: 10 * 10 mm
              实验仪器: 上海伯东英国 NanoMagnetics ezHEMS 霍尔效应测试仪

              电阻率: 10-4 至 109 Ω-cm ( 样本依赖 )
              迁移率: 1 至 107 cm2 / Volt-sec ( 样本依赖 )
              载流子浓度: 10e7 至 1021 per cm-3 ( 样本依赖 )
              输入电流: ±2 nA 至 ±20 mA, ±12 V compliance
              最小霍尔电压测量: 0.1 μV
              支持 Van der Pauw 和 Hall bar 成形试样
              磁场强度: 0.6 Tesla 或 1 Tesla 永久磁铁

              测试温度和磁场温度: 300K RT 1 Tesla
              * 在测试开始前, 仪器均经过标准样品校验. 所有样品根据 ASTM 标准.

              样品 ITO1 测试结果:
              I-V 测量结果

              霍尔效应测试仪 ITO 薄膜
              VdP 测量结果
              测量头类型: RT Head;   磁场: 9677G;   厚度: 80nm
              霍尔效应测试仪 ITO 薄膜

              上海伯东霍尔效应测试仪 ezHEMS 完美解决客户测试需求方案
              部分测试结论:
              1. 得到的电阻值彼此相容.
              2. 所有的IV 曲线都是线性的
              3. 所有样本都是欧姆的,统一的,均匀的.
              4. Van der Pauw 测试为了保证准确性, 测试了2次, 测试结果是相同的.
              ...

              * 鉴于信息保密, 更详细的霍尔效应测试案例欢迎拨打电话咨询: 021-5046-3511, 021-5046-1322

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